Hoogzuivere koperen sputtertargets – Vierkant (4N-6N)
Verklaring inzake proces- en kwaliteitsborging voor sputtertargets van zeer zuiver koper
Onze vierkante koperen sputtertargets worden vervaardigd volgens de strenge normen die vereist zijn voor betrouwbare dunnefilmdepositie in geavanceerde coatingprocessen.
De productie volgt een strikt gecontroleerd vacuümproces om een extreem hoge zuiverheid en materiaalconsistentie te garanderen:
●Selectie van grondstoffen: Alleen gecertificeerde elektrolytische koperkathodes (≥99,99%) worden als uitgangsmateriaal gebruikt.
●Vacuümsmelten: Inductiesmelten onder hoog vacuüm of inerte atmosfeer minimaliseert de opname van zuurstof en vluchtige onzuiverheden.
●Gieten en raffineren: Gecontroleerde, gerichte stolling produceert staven met een homogene samenstelling en minimale segregatie.
●Warm bewerken: Door smeden of warm persen wordt een dichtheid bereikt die dicht bij de theoretische waarde ligt en een verfijnde korrelstructuur verkregen.
●Precisiebewerking: CNC-frezen en -slijpen zorgen voor nauwkeurige, vierkante afmetingen met vlakke, parallelle oppervlakken.
●Oppervlakteafwerking: Meerstaps polijsten zorgt voor een spiegelgladde afwerking die geschikt is voor gebruik in cleanrooms.
●Optionele verbinding: Verbinding met indium of elastomeer op molybdeen/koperen achterplaten is beschikbaar voor thermisch beheer.
●Eindreiniging en verpakking: Ultrasone reiniging in ultrazuiver water, gevolgd door vacuümverpakking in dubbellaags schone zakken.
Kwaliteitscontrolesysteem
● Volledige traceerbaarheid van de ruwe kathodepartij tot het uiteindelijke doelproduct
● Materiaalcertificaten en testrapporten worden bij elke zending meegeleverd.
● Bewaring van archiefmonsters gedurende ≥3 jaar voor verificatie door derden (SGS, BV, enz.)
● 100% inspectie van kritische parameters:
• Zuiverheid en onzuiverheden (GDMS/ICP-MS-analyse; typisch zuurstofgehalte <10 ppm)
• Dichtheidsmeting (Archimedes-methode; ≥99,5%)
• Korrelgrootte en microstructuur (metallografisch onderzoek)
• Maatnauwkeurigheid (CMM; vlakheid ≤0,05 mm typisch)
• Oppervlakteruwheid en defecten (profilometer + visuele inspectie)
● De interne specificaties overtreffen de ASTM F68-vereisten. Typische eigenschappen: thermische geleidbaarheid >390 W/m·K, elektrische weerstand <1,7 μΩ·cm, constante sputteringssnelheid en filmkwaliteit.
● Cleanroom-compatibele processen en een ISO 9001:2015-gecertificeerde faciliteit garanderen dat elk doel voldoet aan de hoge eisen van moderne PVD-toepassingen.










